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プラズマ分光分析研究会 これまでの講演会
プラズマ分光分析研究会 第66回講演会
プログラム
1
JIS高周波プラズマ質量分析通則改正の経緯
古田 直紀（中央大学理工学部）
2
コリジョン・リアクションセル技術について
野々瀬 菜穂子（（独）産業技術総合研究所）
3
リアクションセルおよび高分解能ICP-MSを用いた高感度測定
行嶋 史郎（（株）住化分析センター）
4
サンプル導入系 −JIS改訂に関連して−
岸 洋子（（株）イアス）
5
微少量試料ネブライザーの半導体分析技術への適応
薦田 光徳（シルトロニック・ジャパン（株））
6
シングルコレクター磁場型二重収束質量分析の特徴
上本 道久（都立産業技術研究所）
7
マルチコレクターICPMSによる同位体分析
平田 岳史（東京工業大学）