プラズマ分光分析研究会 第119回講演会
プラズマ分光・質量分析法での検出下限値はどこまで下がるのか？
プログラム
10:00-11:00
SiN中の微量不純物の測定例について
藤崎 一幸（東レリサーチセンター）
11:00-11:50
有機溶媒中のSP-ICP-MS分析例について
村田 俊温（東芝ナノアナリシス）
12:50-13:05
プラズマ分光分析研究会各賞授賞式(1)
13:05-13:55
シリコンウェーハ表面の超微量分析法などについて
川端 克彦（イアス）
13:55-14:45
SP-ICP-MSによる超微量分析法について（仮）
平田 岳史（東京大学）
14:45-14:50
プラズマ分光分析研究会各賞授賞式(2)
15:00-15:50
LA-ICP-MS/MSによる放射性Srの定量イメージング分析
～固体標準試料を必要としない局所領域の定量と可視化技術～
柳澤 華代（福島大学）
15:50-16:40
一般的なクリーンルーム/ブースの特徴や課題
サイドフローを用いた環境的アプローチについて
二岡 豪（興研）